發(fā)布時(shí)間： 2026-07-10 點(diǎn)擊次數(shù)： 32次
近日，針對半導(dǎo)體、精密電子、車載新能源行業(yè)對高加速可靠性測試的嚴(yán)苛需求，我司完成HAST不飽和型高加速老化試驗(yàn)技術(shù)的全面優(yōu)化升級，進(jìn)一步提升設(shè)備在非飽和無凝露工況下的溫控、濕控、穩(wěn)壓精度，可為制造企業(yè)提供更高效、更精準(zhǔn)、更貼合真實(shí)工況的可靠性老化驗(yàn)證方案，助力行業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)升級與研發(fā)效率革新。
隨著消費(fèi)電子、汽車智能化、半導(dǎo)體封裝技術(shù)快速迭代，精密元器件、集成模組、車載電子產(chǎn)品的使用環(huán)境愈發(fā)復(fù)雜，高溫、高濕、微承壓的復(fù)合工況極易引發(fā)產(chǎn)品水汽滲透、封裝分層、金屬腐蝕、參數(shù)漂移等隱性故障。傳統(tǒng)常規(guī)濕熱老化測試存在試驗(yàn)周期冗長、應(yīng)力強(qiáng)度不足的問題，往往需要上千小時(shí)測試才能驗(yàn)證產(chǎn)品耐久性能，極大制約了新品研發(fā)迭代與量產(chǎn)品控效率，難以適配當(dāng)下制造的快速質(zhì)檢節(jié)奏。
相較于傳統(tǒng)濕熱測試與飽和PCT水煮式測試，我司升級后的HAST不飽和型測試技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了測試工況與驗(yàn)證效率的雙重突破。設(shè)備依托高精度溫濕壓協(xié)同調(diào)控系統(tǒng)，全程維持非飽和、無凝露、無積水的測試環(huán)境，徹規(guī)避飽和測試結(jié)露泡水引發(fā)的假性失效問題，測試工況高度貼合產(chǎn)品真實(shí)服役環(huán)境，數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度與行業(yè)適配性大幅提升。
在測試效率層面，HAST不飽和高加速老化技術(shù)具備強(qiáng)的應(yīng)力加速優(yōu)勢，可在幾十至幾百小時(shí)內(nèi)等效模擬產(chǎn)品數(shù)年自然老化效果，相比傳統(tǒng)上千小時(shí)的濕熱老化測試，大幅縮短研發(fā)驗(yàn)證、批次篩查周期，有效幫助企業(yè)壓縮研發(fā)成本、加快新品上市節(jié)奏。
該技術(shù)可精準(zhǔn)覆蓋多領(lǐng)域產(chǎn)品隱性缺陷篩查，全面適配半導(dǎo)體IC芯片、精密電子元器件、PCB電路板、光電精密模組、車載新能源電子等核心產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證需求，可有效排查封裝氣密性不足、水汽滲透分層、引腳氧化腐蝕、電路漏電漂移、密封結(jié)構(gòu)老化失效等各類潛在質(zhì)量問題，為企業(yè)研發(fā)工藝優(yōu)化、原材料篩選、量產(chǎn)應(yīng)力篩選提供精準(zhǔn)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)支撐。
未來，我司將持續(xù)深耕環(huán)境可靠性測試設(shè)備領(lǐng)域，聚焦半導(dǎo)體、新能源、汽車電子、精密智造等行業(yè)的測試痛點(diǎn)，不斷迭代核心控溫、控濕、穩(wěn)壓技術(shù)，持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品性能與測試方案，以高精度、高穩(wěn)定、高適配的試驗(yàn)設(shè)備，為客戶產(chǎn)品品質(zhì)升級、供應(yīng)鏈準(zhǔn)入、市場競爭力提升筑牢技術(shù)根基，助力行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。
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