
您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 一、前言雙層獨立控溫試驗箱采用上下腔體獨立溫控、獨立濕熱循環(huán)結(jié)構(gòu),可同時實現(xiàn)雙工況、雙溫區(qū)并行測試,具備測試效率高、工況兼容廣、適用性強等優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于電子零部件、新能源材料、橡塑制品、精密器件的恒溫濕熱、老化固化、環(huán)境適應(yīng)性驗證。在設(shè)備...
一、前言高海拔低氣壓試驗箱主要模擬高原低壓、稀薄空氣環(huán)境,用于驗證車載電子、航空零部件、戶外設(shè)備、新能源結(jié)構(gòu)件的低溫耐受、冷熱疲勞、環(huán)境適應(yīng)性可靠性。在日常試驗過程中,行業(yè)普遍存在一個典型認知誤區(qū):設(shè)備腔體溫度達標,即判定樣品所處試驗工況合...
一、引言10℃/min快速溫變試驗作為電子元器件、半導(dǎo)體芯片、PCB電路板、車載精密組件核心的可靠性篩選手段,憑借大梯度、快響應(yīng)的溫度切換特性,可高效模擬產(chǎn)品在高低溫交替環(huán)境下的冷熱應(yīng)力疲勞,快速激發(fā)產(chǎn)品潛在結(jié)構(gòu)缺陷與電性失效隱患。常規(guī)溫變...
一、前言在半導(dǎo)體、PCB電路板、精密電子元器件可靠性驗證中,不飽和型HAST高壓加速老化試驗常搭配偏壓帶電監(jiān)測工況使用,用于精準評估產(chǎn)品在高溫、高壓、恒濕、帶電應(yīng)力耦合環(huán)境下的絕緣可靠性、CAF離子遷移、微漏電及介質(zhì)老化性能。相較于飽和型P...
引言不飽和型HAST試驗箱區(qū)別于飽和型PCT試驗設(shè)備,采用溫度、壓力、濕度獨立解耦控制,試驗工況要求腔體內(nèi)部無凝露產(chǎn)生,廣泛應(yīng)用于PCB、半導(dǎo)體元器件、芯片、連接器的離子遷移、CAF、電化學(xué)腐蝕加速可靠性測試。在日常試驗過程中經(jīng)常出現(xiàn)一類隱...
引言在225L模擬環(huán)境試驗箱低溫可靠性測試過程中,存在一類迷惑性的疑難隱性故障:設(shè)備無任何報錯預(yù)警、整體蒸發(fā)器無明顯結(jié)霜、制冷系統(tǒng)壓力正常,但設(shè)備降溫至固定低溫區(qū)間(典型為-40℃附近)時出現(xiàn)降溫停滯,溫度久久無法繼續(xù)下降。常規(guī)手動化霜、空...
在恒溫恒濕、交變濕熱可靠性試驗過程中,很多實驗室都會遇到一類隱蔽且致命的問題:設(shè)備屏幕溫濕度參數(shù)達標、無任何故障報警,但同箱擺放的樣品干濕狀態(tài)不一致、低溫濕熱階段濕度顯示虛高,最終導(dǎo)致批次試驗數(shù)據(jù)偏差大、重復(fù)性差、試驗結(jié)果失效。多數(shù)操作人員...
在交變濕熱可靠性試驗日常運維中,有一個極易被誤判的典型隱性故障:設(shè)備門框外側(cè)頻繁出現(xiàn)周期性結(jié)露、低溫工況下門縫起白霜,操作人員大多會默認是實驗室環(huán)境濕度過高、開門進氣導(dǎo)致的正常現(xiàn)象,不會納入設(shè)備故障排查范圍。但長期運行會發(fā)現(xiàn),該問題反復(fù)出現(xiàn)...