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您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 一、行業(yè)核心痛點(diǎn):多設(shè)備測(cè)試場(chǎng)景下分體式高低溫設(shè)備的三大致命短板在中小型實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢車間、研發(fā)中心批量測(cè)試場(chǎng)景中,很多企業(yè)仍沿用傳統(tǒng)分體式高低溫試驗(yàn)箱。單臺(tái)使用時(shí)弊端尚不明顯,但一旦進(jìn)入多臺(tái)設(shè)備并行測(cè)試、批量老化、同步循環(huán)試驗(yàn)工況,分體機(jī)結(jié)...
一、行業(yè)核心痛點(diǎn):多設(shè)備測(cè)試場(chǎng)景下分體式高低溫設(shè)備的三大致命短板在中小型實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢車間、研發(fā)中心批量測(cè)試場(chǎng)景中,很多企業(yè)仍沿用傳統(tǒng)分體式高低溫試驗(yàn)箱。單臺(tái)使用時(shí)弊端尚不明顯,但一旦進(jìn)入多臺(tái)設(shè)備并行測(cè)試、批量老化、同步循環(huán)試驗(yàn)工況,分體機(jī)結(jié)...
一、行業(yè)核心痛點(diǎn):傳統(tǒng)快速溫變測(cè)試三大致命問題當(dāng)前市面常規(guī)直角內(nèi)膽快速溫變?cè)囼?yàn)箱,在3℃/min~15℃/min高速升降溫工況下,普遍存在風(fēng)場(chǎng)設(shè)計(jì)缺陷,無法滿足精密電子產(chǎn)品嚴(yán)苛的溫度篩選需求,給企業(yè)研發(fā)、質(zhì)檢、量產(chǎn)驗(yàn)證帶來諸多困擾,核心集中...
摘要隨著高原基建、航空航天、車載新能源、高空無人機(jī)及戶外通信設(shè)備的廣泛普及,各類機(jī)電、電子、密封結(jié)構(gòu)產(chǎn)品長(zhǎng)期處于低氣壓、低密度空氣的特殊工況環(huán)境。高海拔低氣壓會(huì)引發(fā)設(shè)備散熱性能衰減、空氣絕緣強(qiáng)度下降、內(nèi)外壓差結(jié)構(gòu)變形、密封泄漏、高壓電弧擊穿...
一、引言:電子行業(yè)濕熱加速測(cè)試應(yīng)用現(xiàn)狀消費(fèi)電子、汽車半導(dǎo)體、PCB、光伏封裝器件長(zhǎng)期暴露于高溫高濕工況,水汽侵入會(huì)誘發(fā)金屬腐蝕、離子遷移、封裝分層、絕緣劣化等致命失效,行業(yè)通過加速濕熱試驗(yàn)提前篩選設(shè)計(jì)、工藝缺陷。現(xiàn)行主流濕熱加速體系分為三類...
摘要:自然環(huán)境下材料老化包含光照、高溫、濕熱、雨水噴淋、晝夜凝露等多重耦合應(yīng)力,常規(guī)紫外老化設(shè)備光譜單一、無法模擬全波段太陽光,傳統(tǒng)筒式氙燈設(shè)備存在輻照不均、試樣遮擋、邊緣老化偏差大等問題,難以滿足高精度、大批量材料耐候性檢測(cè)需求。本文圍繞...
摘要:針對(duì)傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備溫變切換滯后、機(jī)械震動(dòng)干擾、溫場(chǎng)串?dāng)_、測(cè)試精度不足等行業(yè)痛點(diǎn),本文重點(diǎn)研究三箱氣動(dòng)冷熱沖擊設(shè)備的毫秒級(jí)氣動(dòng)風(fēng)門核心設(shè)計(jì)技術(shù)。通過優(yōu)化氣動(dòng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)、高氣密密封結(jié)構(gòu)、智能聯(lián)動(dòng)控制算法與風(fēng)道氣流組織,實(shí)現(xiàn)風(fēng)門毫秒級(jí)啟...
摘要:10℃/min快速溫變?cè)囼?yàn)是半導(dǎo)體、車載電子、新能源電控、精密元器件溫度應(yīng)力篩選的核心工況,嚴(yán)格遵循GB/T2423.22、IEC60068-2-14、JESD22-A104、AEC-Q100等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。目前市場(chǎng)大量低價(jià)設(shè)備以瞬時(shí)峰值...